8400系列霍尔效应测量系统的应用及测量

      光伏（太阳能电池）和热电材料的共同特征是地迁移率。这种特征使得我们用常规得DC磁场霍尔方法去测量材料得迁移率是非常困难甚至是不可能的。8400系列AC磁场霍尔测量选件使这种困难或不可能变得简单且可能。

      8400系列的AC磁场测量选件提供了一个测量有机材料的机会，直到现在要实现测量地迁移率有机电子学的霍尔效应仍然是困难的。这些材料是印刷和柔性电子设备和有机发光二极管以及有机太阳能电池材料的基础。

      材料

      太阳能电池

      OPVs（有机光伏），a：Si，CdTe，CdInGaSe（CIGS）

      有机电子

      OTFTs（有机薄膜晶体管），Pentacene（并五苯），Chalcogenides（硫族化物），OLEDs（有机发光二极管）

      透明导体氧化物

      InSnO（ITO），ZnO，GaZnO，InGaZnO（IGZO）

      III-V半导体

      InP，InSb，InAs，GaAs，GaN，GaP，GaSb，AIN（氮化铝）基底器件，HEMTs（高迁移率电子晶体管），和HBTs（异质结双极晶体管）

      II-VI半导体

      CdS，CdSe，ZnS，ZnSe,ZnTe,HgCdTe

      元素半导体

      在绝缘器件上的Ge，Si（SOI），SiC，参杂金刚石SiGe基底的器件：HBTs（异质结双极晶体管）和FETs（场效应晶体管存储器）

      稀磁半导体

      GaMnAs，MnZnO

      其它半导体材料

      金属氧化物，有机和无机导体

      磁控电阻器（MR）

      磁控电阻器，Giant-MR（巨磁电阻），Tunneling-MR（隧道磁控电阻器），和CoLossal-MR devices（巨磁电阻器件）

      可直接或间接测量的参数如下：

      直接测量

      DC/AC磁场下的霍尔电压

      电阻率

      欧姆检查

      四线法则电阻

      IV曲线

      间接测量

      霍尔系数

      霍尔迁移率

      磁阻

      载流子类型

      载流子浓度/密度